JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙(そら)への英知

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titleテラヘルツ放射を用いた集積回路診断法の開発
Other TitleDiagnosis of LSIs with THz Radiation
Author(jpn)山下, 将嗣; 大谷, 知行; 松本, 徹; 御堂, 義博; 三浦, 克介; 二川, 清; 中前, 幸治
Author(eng)Yamashita, Masatsugu; Ohtani, Tomoyuki; Matsumoto, Tohru; Mido, Yoshihiro; Miura, Katsusuke; Nikawa, Kiyoshi; Nakamae, Kohji
Author Affiliation(jpn)理科学研究所基幹研究所 テラヘルツイメージング研究チーム; 理科学研究所基幹研究所 テラヘルツイメージング研究チーム; 浜松ホトニクス システム事業部; 大阪大学大学院情報科学研究科; 大阪大学大学院情報科学研究科; 大阪大学大学院情報科学研究科; 大阪大学大学院情報科学研究科
Author Affiliation(eng)Advanced Science Institute, RIKEN; Advanced Science Institute, RIKEN; Hamamatsu Photonics; Osaka University; Osaka University; Osaka University; Osaka University
Issue Date2012-07
Publisher宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)
Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
Publication title第22回高温エレクトロニクス研究会
Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS
Start page19
End page34
Publication date2012-07
Languagejpn
Description会議情報: 第22回高温エレクトロニクス研究会(2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
Meeting Information: 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (March 21, 2012. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan
Document TypeConference Paper
JAXA Categoryシンポジウム・研究会
SHI-NOSA6000030003
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/10742


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