JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙(そら)への英知

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title半導体デバイスにおけるESD障害と先端ESD保護設計手法
Other TitleAdvanced ESD Protection Design Method and ESD Damages on Semiconductor Devices
Author(jpn)福田, 保裕
Author(eng)Fukuda, Yasuhiro
Author Affiliation(jpn)沖エンジニアリング株式会社 信頼性技術事業部
Author Affiliation(eng)Reliability Engineering Division, Oki Engineering Co., Ltd.
Issue Date2006-04
Publisher宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 (JAXA)(ISAS)
Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
Publication title第16回高温エレクトロニクス研究会
Proceedings of the 16th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS
Start page3
End page20
Publication date2006-04
Languagejpn
Description会議情報: 第16回高温エレクトロニクス研究会(2006年3月10日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部(JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
Meeting Information: 16th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (March 10, 2006. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan
Document TypeConference Paper
JAXA Categoryシンポジウム・研究会
SHI-NOSA6000028002
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/10957


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