JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙(そら)への英知

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title高耐圧パワーMOSFETの故障解析の現状と課題
Other TitleFailure Analysis of High Power MOSFETs
Author(jpn)大井, 明彦
Author(eng)Ohi, Akihiko
Author Affiliation(jpn)富士電機株式会社電子デバイス事業部本部松本工場
Author Affiliation(eng)Fuji Electric Co., Ltd.
Issue Date2012-07
Publisher宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)
Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
Publication title第22回高温エレクトロニクス研究会
Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS
Start page68
End page82
Publication date2012-07
Languagejpn
Description会議情報: 第22回高温エレクトロニクス研究会(2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
Meeting Information: 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (March 21, 2012. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan
Document TypeConference Paper
JAXA Categoryシンポジウム・研究会
SHI-NOSA6000030006
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/1152


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