JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙(そら)への英知

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title低損失SiCデバイスとその熱的信頼性
Other TitleLow Loss SiC Devices and Its Thermal Reliability
Author(jpn)中村, 孝
Author(eng)Nakamura, Takashi
Author Affiliation(jpn)ローム株式会社新材料デバイス研究開発センター
Author Affiliation(eng)New Material Divices R&D Center, ROHM CO., LTD.
Issue Date2007-06
Publisher宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 (JAXA)(ISAS)
Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
Publication title第17回高温エレクトロニクス研究会
Proceedings of the 17th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS
Start page71
End page78
Publication date2007-06
Languagejpn
Description会議情報: 第17回高温エレクトロニクス研究会(2007年2月26日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部(JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
Meeting Information: 17th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (February 26, 2007. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan
Document TypeConference Paper
JAXA Categoryシンポジウム・研究会
SHI-NOSA6000029007
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/12717


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