JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙(そら)への英知

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titleSOIデバイスのシングルイベントエラーレートの計測と予測
Other TitleMeasurement and estimation of soft error rates
Author(jpn)牧野, 高絋
Author(eng)Makino, Takahiro
Author Affiliation(jpn)総合研究大学院大学
Author Affiliation(eng)Graduate University for Advanced Studies
Issue Date2009-06
Publisher宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部
Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)
Publication title高温エレクトロニクス研究会
Proceedings of ISAS research meeting on High Temperature Electronics
Volume19
Start page79
End page88
Publication date2009-06
Languagejpn
Abstract会議情報: 第19回高温エレクトロニクス研究会(2009年3月12日, 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部相模原キャンパス)
Meeting Information: The 19th ISAS research meeting on High Temperature Electronics (Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA), March 12, 2009)
Document TypeConference Paper
JAXA Categoryシンポジウム・研究会
NCIDAA11987120
SHI-NOAA0064294006
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/15704


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