| タイトル | Feasibility study of secondary emission electron microscopy for examining materials containing dispersed oxide particles |
| 本文（外部サイト） | http://hdl.handle.net/2060/19660028388 |
| 著者（英） | Norris, L. F.; Cremens, W. S. |
| 著者所属（英） | NASA Lewis Research Center |
| 発行日 | 1966-10-01 |
| 言語 | eng |
| 内容記述 | Feasibility study of secondary emission electron microscopy for examining materials containing dispersed oxide particles |
| NASA分類 | MACHINE ELEMENTS AND PROCESSES |
| レポートNO | 66N37678
NASA-TN-D-3650 |
| 権利 | No Copyright |
