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title第16回高温エレクトロニクス研究会
Other Title―デバイスの劣化・損傷・破壊―
Proceedings of the 16th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS
Author(jpn)宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部(JAXA)(ISAS)
Author(eng)Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
Issue Date2006-04
Publisher宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 (JAXA)(ISAS)
Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
Publication title第16回高温エレクトロニクス研究会
Proceedings of the 16th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS
Start page1
End page123
Publication date2006-04
Languagejpn
Description会議情報: 第16回高温エレクトロニクス研究会(2006年3月10日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部(JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
Meeting Information: 16th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (March 10, 2006. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan
別資料番号: AA0063790-000
Document TypeConference Paper
JAXA Categoryシンポジウム・研究会
SHI-NOSA6000028000
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/3368


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