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レーザ微小領域電界センサを用いた故障解析
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Item type | 会議発表論文 / Conference Paper(1) | |||||
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公開日 | 2015-03-26 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | レーザ微小領域電界センサを用いた故障解析 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
資源タイプ | conference paper | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | metadata only access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
その他のタイトル(英) | ||||||
その他のタイトル | Failure Analysis Method of using Laser Nano Electrostaticfield Probe Sensor(L-NEPS) | |||||
著者 |
伊藤, 誠吾
× 伊藤, 誠吾× Ito, Seigo |
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著者所属 | ||||||
東京大学生産技術研究所 | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
Institute of Industrial Science, The University of Tokyo | ||||||
出版者 | ||||||
出版者 | 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS) | |||||
出版者(英) | ||||||
出版者 | Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS) | |||||
書誌情報 |
第22回高温エレクトロニクス研究会 en : Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS p. 5-18, 発行日 2012-07 |
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会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 第22回高温エレクトロニクス研究会(2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県 | |||||
会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等)(英) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (March 21, 2012. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan | |||||
資料番号 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 資料番号: SA6000030002 |