JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙(そら)への英知

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titleレーザ微小領域電界センサを用いた故障解析
Other TitleFailure Analysis Method of using Laser Nano Electrostaticfield Probe Sensor(L-NEPS)
Author(jpn)伊藤, 誠吾
Author(eng)Ito, Seigo
Author Affiliation(jpn)東京大学生産技術研究所
Author Affiliation(eng)Institute of Industrial Science, The University of Tokyo
Issue Date2012-07
Publisher宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)
Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
Publication title第22回高温エレクトロニクス研究会
Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS
Start page5
End page18
Publication date2012-07
Languagejpn
Description会議情報: 第22回高温エレクトロニクス研究会(2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
Meeting Information: 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (March 21, 2012. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan
Document TypeConference Paper
JAXA Categoryシンポジウム・研究会
SHI-NOSA6000030002
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/4005


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