JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙(そら)への英知

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title高温電子線照射による半導体デバイスの損傷
Other TitleDegradation of Properties in Semiconductor Devices by Electron Irradiation at High-Temperature
Author(jpn)葉山, 清輝
Author(eng)Hayama, Kiyoteru
Author Affiliation(jpn)熊本電波工業高等専門学校
Author Affiliation(eng)Kumamoto National College of Technology
Issue Date2006-04
Publisher宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 (JAXA)(ISAS)
Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
Publication title第16回高温エレクトロニクス研究会
Proceedings of the 16th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS
Start page93
End page112
Publication date2006-04
Languagejpn
Description会議情報: 第16回高温エレクトロニクス研究会(2006年3月10日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部(JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
Meeting Information: 16th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (March 10, 2006. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan
Document TypeConference Paper
JAXA Categoryシンポジウム・研究会
SHI-NOSA6000028009
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/4594


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