| タイトル | Microwave flaw detector Patent |
| 本文（外部サイト） | http://hdl.handle.net/2060/19710008347 |
| 著者（英） | Feinstein, L.; Hruby, R. J. |
| 著者所属（英） | NASA Ames Research Center |
| 発行日 | 1970-10-06 |
| 言語 | eng |
| 内容記述 | Surface defect detection by reflected microwave radiation pattern |
| NASA分類 | MACHINE ELEMENTS AND PROCESSES |
| レポートNO | 71N17822 |
| 権利 | No Copyright |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/516397 |
