JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙(そら)への英知

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title宇宙用半導体デバイスのスクリーニングと温度加速試験
Other TitleScreening of Semiconductor Devices for Space Applications -Thermally Accelerated Test-
Author(jpn)大串, 義雄
Author(eng)Ohkushi, Yoshio
Author Affiliation(jpn)宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部(JAXA)(ISAS) 品質保証室
Author Affiliation(eng)Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
Issue Date2007-06
Publisher宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 (JAXA)(ISAS)
Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
Publication title第17回高温エレクトロニクス研究会
Proceedings of the 17th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS
Start page12
End page27
Publication date2007-06
Languagejpn
Description会議情報: 第17回高温エレクトロニクス研究会(2007年2月26日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部(JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
Meeting Information: 17th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (February 26, 2007. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan
Document TypeConference Paper
JAXA Categoryシンポジウム・研究会
SHI-NOSA6000029003
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/7770


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