JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙(そら)への英知

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title化合物半導体パワーデバイスの破壊現象シュミレーション
Other TitleSimulation of Electrical Breakdown in Compound Semiconductor Power Devices
Author(jpn)大野, 泰夫
Author(eng)Ohno, Yasuo
Author Affiliation(jpn)徳島大学工学部
Author Affiliation(eng)The University of Tokushima
Issue Date2006-04
Publisher宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 (JAXA)(ISAS)
Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
Publication title第16回高温エレクトロニクス研究会
Proceedings of the 16th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS
Start page68
End page74
Publication date2006-04
Languagejpn
Description会議情報: 第16回高温エレクトロニクス研究会(2006年3月10日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部(JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
Meeting Information: 16th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (March 10, 2006. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan
Document TypeConference Paper
JAXA Categoryシンポジウム・研究会
SHI-NOSA6000028006
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/9137


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