JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙(そら)への英知

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title第17回高温エレクトロニクス研究会
Other Title―デバイスの信頼性と熱―
Proceedings of the 17th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS
Author(jpn)宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部(JAXA)(ISAS)
Author(eng)Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
Issue Date2007-06
Publisher宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部 (JAXA)(ISAS)
Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
Publication title第17回高温エレクトロニクス研究会
Proceedings of the 17th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS
Start page1
End page89
Publication date2007-06
Languagejpn
eng
Description会議情報: 第17回高温エレクトロニクス研究会(2007年2月26日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部(JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
Meeting Information: 17th ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS (February 26, 2007. Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)), Sagamihara, Kanagawa Japan
別資料番号: AA0063791-000
Document TypeConference Paper
JAXA Categoryシンポジウム・研究会
SHI-NOSA6000029000
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/9176


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