JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙(そら)への英知

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1. プリント基板と実装部品の解析サービス&フォトエミッション顕微鏡 Analysis Service for Printed Circuit Boards & Photo-emission Microscope
(著者名) 丹野, 雅明
(Author) Tanno, Masaki
(内容記述) 会議情報: 第22回高温エレクトロニクス研究会(2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
(文献種別) Conference Paper
(刊行物名) 第22回高温エレクトロニクス研究会(Journal Name) Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS(ページ) 83-95(刊行年月日) 2012-07
(言語) jpn(資料番号) SA6000030007
2. 高耐圧パワーMOSFETの故障解析の現状と課題 Failure Analysis of High Power MOSFETs
(著者名) 大井, 明彦
(Author) Ohi, Akihiko
(内容記述) 会議情報: 第22回高温エレクトロニクス研究会(2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
(文献種別) Conference Paper
(刊行物名) 第22回高温エレクトロニクス研究会(Journal Name) Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS(ページ) 68-82(刊行年月日) 2012-07
(言語) jpn(資料番号) SA6000030006
3. レーザボルテージプローブ・ダイナミック診断 Meridian-IV紹介 Laser Voltage Probe Method
(著者名) 茂木, 忍
(Author) Motegi, Shinobu
(内容記述) 会議情報: 第22回高温エレクトロニクス研究会(2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
(文献種別) Conference Paper
(刊行物名) 第22回高温エレクトロニクス研究会(Journal Name) Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS(ページ) 53-67(刊行年月日) 2012-07
(言語) jpn(資料番号) SA6000030005
4. 電磁場再構成機能を備えた磁気イメージング装置の開発と電子部品故障解析への応用 Magnetic imaging diagnosis of LSI
(著者名) 木村, 建次郎; 美馬, 勇輝; 木村, 憲明; ほか
(Author) Kimura, Kenjiro; Mima, Yuki; Kimura, Noriaki; et al.
(内容記述) 会議情報: 第22回高温エレクトロニクス研究会(2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
(文献種別) Conference Paper
(刊行物名) 第22回高温エレクトロニクス研究会(Journal Name) Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS(ページ) 35-52(刊行年月日) 2012-07
(言語) jpn(資料番号) SA6000030004
5. テラヘルツ放射を用いた集積回路診断法の開発 Diagnosis of LSIs with THz Radiation
(著者名) 山下, 将嗣; 大谷, 知行; 松本, 徹; ほか
(Author) Yamashita, Masatsugu; Ohtani, Tomoyuki; Matsumoto, Tohru; et al.
(内容記述) 会議情報: 第22回高温エレクトロニクス研究会(2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
(文献種別) Conference Paper
(刊行物名) 第22回高温エレクトロニクス研究会(Journal Name) Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS(ページ) 19-34(刊行年月日) 2012-07
(言語) jpn(資料番号) SA6000030003
6. レーザ微小領域電界センサを用いた故障解析 Failure Analysis Method of using Laser Nano Electrostaticfield Probe Sensor(L-NEPS)
(著者名) 伊藤, 誠吾
(Author) Ito, Seigo
(内容記述) 会議情報: 第22回高温エレクトロニクス研究会(2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
(文献種別) Conference Paper
(刊行物名) 第22回高温エレクトロニクス研究会(Journal Name) Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS(ページ) 5-18(刊行年月日) 2012-07
(言語) jpn(資料番号) SA6000030002
7. はじめに Preface
(著者名) 廣瀬, 和之; 小林, 大輔
(Author) Hirose, Kazuyuki; Kobayashi, Daisuke
(内容記述) 会議情報: 第22回高温エレクトロニクス研究会(2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
(文献種別) Conference Paper
(刊行物名) 第22回高温エレクトロニクス研究会(Journal Name) Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS(ページ) 1(刊行年月日) 2012-07
(言語) jpn(資料番号) SA6000030001
8. 第22回高温エレクトロニクス研究会 ―デバイス故障診断― Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS
(著者名) 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所(JAXA)(ISAS)
(Author) Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)(ISAS)
(内容記述) 会議情報: 第22回高温エレクトロニクス研究会(2012年3月21日. 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 (JAXA)(ISAS)), 相模原市, 神奈川県
(文献種別) Conference Paper
(刊行物名) 第22回高温エレクトロニクス研究会(Journal Name) Proceedings of the 22nd ISAS Research Meeting on HIGH TEMPERATURE ELECTRONICS(ページ) 1-108(刊行年月日) 2012-07
(言語) jpn(資料番号) SA6000030000
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