タイトル | White Light Depth Gage for Defects in Glass Surfaces |
本文(外部サイト) | http://hdl.handle.net/2060/20130012945 |
著者(英) | Youngquist, Bob; Starr, Stan |
著者所属(英) | NASA Kennedy Space Center |
発行日 | 2008-11-19 |
言語 | eng |
内容記述 | No abstract available |
NASA分類 | Quality Assurance and Reliability |
レポートNO | KSC-2009-056 |
権利 | No Copyright |
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