| タイトル | Radiation Effects in Commercial GaN HEMT Devices |
| 著者（英） | Skinner, James; Hoffaman, James; Scheick, Leif; Harris, Richard |
| 著者所属（英） | Jet Propulsion Lab., California Inst. of Tech. |
| 発行日 | 2011-06-28 |
| 言語 | eng |
| 内容記述 | No abstract available |
| NASA分類 | Electronics and Electrical Engineering |
| 権利 | Copyright |
|
