| タイトル | Testing for Rare SEEs in FT Devices |
| 著者（英） | Griffith, Steve; Sievert, Fred; Guertin, Steven M.; Nagy, James; Hafer, Craig |
| 著者所属（英） | Jet Propulsion Lab., California Inst. of Tech. |
| 発行日 | 2011-04-13 |
| 言語 | eng |
| 内容記述 | No abstract available |
| NASA分類 | Electronics and Electrical Engineering |
| 権利 | Copyright |
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