| タイトル | X-ray diffraction measurement of Z[lc]nC[lc]r2O4 at cryogenic temperature |
| その他のタイトル | 極低温におけるZnCr2O4のX線回折測定 |
| 著者（日） | 木野 幸浩; 桜井 仁; 鈴木 治彦; 水野 将幸 |
| 著者（英） | Kino, Yoshihiro; Sakurai, Hitoshi; Suzuki, Haruhiko; Mizuno, Masayuki |
| 著者所属（日） | 理学電機; 理学電機; 金沢大学 理学部 物理学科; 金沢大学 理学部 物理学科 |
| 著者所属（英） | Rigaku Corporation; Rigaku Corporation; Kanazawa University Department of Physics, Faculty of Science; Kanazawa University Department of Physics, Faculty of Science |
| 発行日 | 2002-07 |
| 発行機関など | Institute of Physical and Chemical Research |
| 刊行物名 | RIKEN Review
RIKEN Review |
| 号 | 47 |
| 開始ページ | 28 |
| 終了ページ | 29 |
| 刊行年月日 | 2002-07 |
| 言語 | eng |
| 抄録 | By using a dilution cryostat, X-ray diffraction measurement can be carried out at cryogenic temperature. With this system, it was shown for the first time that ZnCr204, which is a stable oxide, undergoes a phase transition to a tetragonal structure at the temperature below 13 K. |
| キーワード | ZnCr2O4; cryogenic temperature; crystal structure; phase transition; X-ray diffraction; dilution cryostat; synchrotron radiation; antiferromagnetism; ZnCr2O4; 極低温; 結晶構造; 相転移; X線回折; 希釈クライオスタット; シンクロトロン放射; 反強磁性 |
| 資料種別 | Conference Paper |
| ISSN | 0919-3405 |
| SHI-NO | AA0035537007 |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/26416 |
