JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙（そら）への英知

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タイトルRadiation induced degradation of SOI n-channel LDMOSFETs
著者（英）Vandooren, A.; Reiner, L.; Kolowa, E.; Mojarradi, M.; Conley, J. F., Jr.; Cristoloveanu, S.
発行日2001-10-01
言語eng
内容記述
権利Copyright


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