| タイトル | RIETAN-2000のポリッシュアップ:Le Bail解析、CIF、スクリプト |
| その他のタイトル | Polishing up RIETAN-2000: Le Bail analysis, CIF, and scripts |
| 著者（日） | 泉 富士夫 |
| 著者（英） | Izumi, Fujio |
| 著者所属（日） | 物質・材料研究機構 物質研究所 |
| 著者所属（英） | National Institute for Materials Science Advanced Materials Laboratory |
| 発行日 | 2001-06 |
| 刊行物名 | 第2回粉末回折法討論会:近年における方法論の発展
Symposium on Powder Diffraction 2: Current Status of Methodology |
| 開始ページ | 37 |
| 終了ページ | 42 |
| 刊行年月日 | 2001-06 |
| 言語 | jpn |
| キーワード | MEM; GUI; CIF; pattern fitting; structural parameter; Rietveld analysis; nonlinear least squares method; research and development; Le Bail analysis; electron density; crystal structure; diffraction pattern; MEM; GUI; CIF; パターン・フィティング; 構造パラメータ; Rietveld解析; 非線形最小2乗法; 研究開発; Le Bail解析; 電子密度; 結晶構造; 回折パターン |
| 資料種別 | Conference Paper |
| SHI-NO | AA0033480007 |
| レポートNO | KEK-Proceedings-2001-17 |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/28419 |
