JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙（そら）への英知

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タイトルBallistic-Electron-Emission Microscopy of Strain Non-Uniformities in Si(sub 1-x)Ge(sub x)/Si Structure
著者（英）Bell, L. D.
発行日1995-07-01
言語eng
内容記述
権利Copyright


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