| タイトル | Progress towards picometer accuracy laser metrology for the space interferometry mission |
| 著者（英） | Regehr, M.; Halverson, P. G.; Spero, R.; Gutierrez, R.; Shaklan, S.; Logan, J.; Yu, J.; Zhao, F.; Kuhnert, A.; Chang, T.; Schmidtlin, E.; Vanzandt, T. R. |
| 発行日 | 2000-11-27 |
| 言語 | eng |
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| NASA分類 | Space Sciences (General) |
| 権利 | Copyright |
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