| タイトル | Application of pattern analysis technique to room-temperature operational type X-ray detectors with poor resolutions |
| その他のタイトル | 室温で作動する低分解能X線検出器へのパターン分析の応用 |
| 著者（日） | 吉崎 弘一; 福田 浩; 岩崎 信; 北村 正晴 |
| 著者（英） | Yoshizaki, Koichi; Fukuda, Hiroshi; Iwasaki, Shin; Kitamura, Masaharu |
| 著者所属（日） | 東北大学 工学部 原子核工学科; 東北大学 工学部 原子核工学科; 東北大学 工学部 原子核工学科; 東北大学 工学部 原子核工学科 |
| 著者所属（英） | Tohoku University Department of Nuclear Engineering, Faculty of Engineering; Tohoku University Department of Nuclear Engineering, Faculty of Engineering; Tohoku University Department of Nuclear Engineering, Faculty of Engineering; Tohoku University Department of Nuclear Engineering, Faculty of Engineering |
| 発行日 | 1995-01-17 |
| 刊行物名 | KEK Proceedings
KEK Proceedings |
| 開始ページ | 330 |
| 終了ページ | 335 |
| 刊行年月日 | 1995-01-17 |
| 言語 | eng |
| 抄録 | In the field of X ray elemental analysis, a Si-PIN (Positive-Intrinsic-Negative) photodiode detector has high potentiality for replacing Si(Li) detector in near future, if the problem about its lower energy resolution could be solved. In this study, applicability of a pattern analysis method to the analysis of X ray spectra by such poor resolution detectors was examined. The pattern analysis was carried out on the spectra of SUS316 sample, and results showed that this method is effective for the analysis of the spectra with low energy resolution.
Si-PINフォトダイオード検出器は、その低いエネルギー分解能の問題が解決したなら、近い将来、X線元素分析の分野で従来のSi(Li)検出器にとってかわる可能性がある。本研究では、このような低分解能検出器によるX線スペクトル分析への、パターン解析法の適用性を調べた。SUS316試料について、そのスペクトルのパターン解析を行ったところ、この方法が低分解能スペクトルの分析に有効であることが示された。 |
| キーワード | pattern analysis; X ray elemental analysis; Si PIN photodiode; spectrum analysis; reference spectrum; X ray detector; SUS316 sample; radiation detector; パターン解析; X線元素分析; Si-PINフォトダイオード; スペクトル分析; 参照スペクトル; X線検出器; SUS316試料; 放射線検出器 |
| 資料種別 | Conference Paper |
| SHI-NO | AA0000115042 |
| レポートNO | KEK-Proceedings-95-1 |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/31558 |
