| タイトル | 中性子・X線を用いた有機・高分子組織体の表面・界面ナノ構造解析 |
| その他のタイトル | Analysis of surface/interface nanostructures of organic and high polymer materials by using neutrons/X-rays |
| 著者（日） | 高原 淳; 穂坂 直; 松野 亮介; 田中 敬二; 川口 大輔; 鳥飼 直也; 武田 全康; 小椎尾 謙; 秋永 隆宏; 本田 幸司 |
| 著者（英） | Takahara, Atsushi; Hosaka, Nao; Matsuno, Ryosuke; Tanaka, Keiji; Kawaguchi, Daisuke; Naoya, Torikai; Takeda, Masayasu; Kojio, Ken; Akinaga, Takahiro; Honda, Koji |
| 著者所属（日） | 九州大学先導物質化学研究所; 九州大学 大学院工学研究科; 九州大学 大学院工学研究科; 九州大学 大学院工学研究科; 九州大学 大学院工学研究科; 高エネルギー加速器研究機構 物質構造科学研究所 中性子科学研究施設; 日本原子力研究所 東海研究所; 九州大学 大学院工学研究科; 九州大学 大学院工学研究科; 九州大学 大学院工学研究科 |
| 著者所属（英） | Institute for Materials Chemistry and Engineering, Kyushu University; Kyushu University Graduate School of Engineering; Kyushu University Graduate School of Engineering; Kyushu University Graduate School of Engineering; Kyushu University Graduate School of Engineering; High Energy Accelerator Research Organization Neutron Science Laboratory, Institute of Materials Structure Science; Japan Atomic Energy Research Institute Tokai Research Establishment; Kyushu University Graduate School of Engineering; Kyushu University Graduate School of Engineering; Kyushu University Graduate School of Engineering |
| 発行日 | 2004-08 |
| 刊行物名 | PF・KENS合同研究会:ナノサイエンス・テクノロジーと放射光／中性子反射率法
PF-KENS Joint Meeting: Synchrotron Radiation and Neutron Reflectometry for Nano Sciences and Technologies |
| 開始ページ | 31 |
| 終了ページ | 34 |
| 刊行年月日 | 2004-08 |
| 言語 | jpn |
| キーワード | nanostructure; X-ray diffraction; neutron reflectivity; Bragg peak; surface structure; structural analysis; heat treatment; temperature dependence; ナノ構造; X線回折; 中性子反射率; Braggピーク; 表面構造; 構造解析; 熱処理; 温度依存性 |
| 資料種別 | Conference Paper |
| SHI-NO | AA0047519008 |
| レポートNO | KEK-Proceedings-2004-5 |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/32169 |
