タイトル | Technical Report of ISSP Ser. A: Number 2819 |
その他のタイトル | X-ray diffraction study of Si(111) 3(1/2)x3(1/2)-Au Si(111)3{1/2}×3{1/2}-AuのX線回折研究 |
著者(日) | 桑原 裕司; 青野 正和; 中谷 信一郎; 高橋 正光; 高橋 敏男 |
著者(英) | Kuwahara, Yuji; Aono, Masakazu; Nakatani, Shinichiro; Takahashi, Masamitsu; Takahashi, Toshio |
著者所属(日) | 理化学研究所; 理化学研究所; 東京大学物性研究所; 東京大学物性研究所; 東京大学物性研究所 |
著者所属(英) | Institute of Physical and Chemical Research; Institute of Physical and Chemical Research; Institute for Solid State Physics, University of Tokyo; Institute for Solid State Physics, University of Tokyo; Institute for Solid State Physics, University of Tokyo |
発行日 | 1994-04 |
発行機関など | Institute for Solid State Physics, University of Tokyo |
刊行物名 | Technical Report of ISSP Ser. A Technical Report of ISSP Ser. A |
号 | 2819 |
開始ページ | 1冊 |
刊行年月日 | 1994-04 |
言語 | eng |
抄録 | The structure of the Si(111) square root of 3 x square root 3-Au surface has been investigated by the use of the surface X-ray diffraction with synchrotron radiation. The structure perpendicular to the surface was determined with respect to the Si bulk crystal. The results of least-squares analysis indicate that Au atoms are adsorbed on the Si substrate in which the first Si layer is missing. The heights of the Au layer and the Si second layer with respect to the intact Si third layer were estimated to be 3.09 +/- 0.03 A and 2.16 +/- 0.10 A, respectively. A possible model of the surface structure is proposed. Si(111)3(1/2)×3(1/2)-Au表面の構造をシンクロトロン放射による表面X線回折を用いて調べた。Siバルク結晶に関して表面に垂直な構造を決定した。最小2乗法による解析の結果、最初のSi層がなくなっているSi基板上にAu原子が吸着していることがわかった。完全な姿のSiの3番目の層に対し、それぞれ3.09±0.03オングストロームと2.16±0.10オングストロームであると推定された。表面構造を記述する模型について提案する。 |
キーワード | X ray diffraction; surface structure; Si(111); synchrotron radiation; Si bulk crystal; least squares method; Au atom; adsorption; Si substrate; Si layer; background scattering; short range disorder; vertical configuration; Au trimer; bond length; X線回折; 表面構造; Si(111); シンクロトロン放射; Siバルク結晶; 最小2乗法; Au原子; 吸着; Si基板; Si層; バックグラウンド散乱; 短距離無秩序; 垂直配置; Au3量体; 原子間距離 |
資料種別 | Technical Report |
ISSN | 0082-4798 |
SHI-NO | AA0007300000 |
レポートNO | ISSP-Ser.A-No.2819 |
URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/33131 |