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タイトルElectronic states of undoped and Mg-doped GaN thin films studied by photoelectron spectroscopy
その他のタイトル光電子分光法により調べた非ドープおよびMgドープGaN薄膜の電子状態
著者(日)名越 正泰; 大谷 章; Beresford,R.
著者(英)Nagoshi, Masayasu; Otani, Akira; Beresford, R.
著者所属(日)鋼管計測; 日本鋼管 綾瀬研究所; Brown University Division of Engineering
著者所属(英)Kokan Keisoku K. K.; NKK Corporation Ayase LSI Research Center; Brown University Division of Engineering
発行日1995-10-03
刊行物名Bulletin of the Research Institute of Electronics, Shizuoka University
静岡大学電子工学研究所研究報告
30
3
開始ページ57
終了ページ59
刊行年月日1995-10-03
言語eng
抄録Undoped and Mg-doped GaN thin films with wurtzite structures have been investigated using X-ray and ultraviolet photoelectron spectroscopies. It is found that new states appear above the top of the valence band and the valence band shifts to the lower-binding-energy side with Mg doping. These results are discussed in terms of the Mg-doping effects on the electronic states and photoluminescence properties of wurtzite GaN thin films.
X線および紫外光電子分光法を用いて、ウルツ鉱型結晶窒化ガリウム(GaN)の非ドープおよびマグネシウム(Mg)ドープ薄膜の電子状態を調べた。Mgをドープすると、価電子帯の最上部の上に新しい状態が現れて、価電子帯は低結合エネルギー側にシフトする。これらの結果を、ウルツ鉱型結晶である窒化ガリウム(GaN)薄膜における電子状態と光ルミネッセンス特性へのMgドーピング効果として論じた。
キーワードsurface; GaN thin film; wurtzite structure; Mg doping; X ray photoelectron spectroscopy; ultraviolet photoelectron spectroscopy; electronic states; valence band; photoluminescence; optoelectronic material; light emitting diode; doping effect; 表面; GaN薄膜; ウルツ鉱型結晶; Mgドープ; X線光電子分光法; 紫外光電子分光法; 電子状態; 価電子帯; 光ルミネッセンス; 光電的物質; 発光ダイオード; ドーピング効果
資料種別Conference Paper
SHI-NOAA0000462012
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/33925


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