Technical Report of ISSP Ser. A: Number 3047

Abstract

The resonant soft x-ray emission spectra at Si L(sub 2,3) core exciton have been measured at 18 K by using synchrotron radiation. As an excitation light source, a very high resolution monochromator with the undulator was used. The Raman scattering whose energy shifts in proportion to the excitation energy is found below the L(sub 2,3) absorption edge. The intensity of the Raman scattering increases rapidly as the excitation energy comes close to the L(sub 2,3) core exciton. It is found that the Raman scattering resonates at the L(sub 2,3) core exciton which is made around the X(sub 1) conduction minimum. The elementary excitation of the Raman scattering is the valence exciton that is a transition from X(sub 1) or X(sub 4) points in the valence band to the X(sub 1) conduction minimum.

シンクロトロン放射を用いて18KにおけるSiL(2,3)内殻励起子での共鳴軟X線放射スペクトルを測定した。励起光源として、アンジュレータをもつ超高分解能モノクロメータを用いた。エネルギーが励起エネルギーに比例してシフトするラマン散乱がL(2,3)吸収エッジ以下で見られた。ラマン散乱の強度は励起エネルギーがL(2,3)内殻励起子に近づくにつれて急速に増大した。ラマン散乱はX1伝導ミニマム周辺で生成されるL(2,3)コア励起子で共鳴することが観測された。ラマン散乱の基本励起は原子価バンドにおけるX1またはX4点からX1伝導ミニマムへの転移である原子価励起子である。