| タイトル | Direct measurement of electron-tracks using a charge coupled device |
| その他のタイトル | 電荷結合デバイスを用いた電子飛跡の直接測定 |
| 著者（日） | 北本 俊二; 大田 基在; 岡田 達明; 幸村 孝由; 森 浩二; 粟木 久光; Tachibana, K. |
| 著者（英） | Kitamoto, Shunji; Ota, Motoari; Okada, Tatsuaki; Komura, Takayoshi; Mori, Koji; Awaki, Hisamitsu; Tachibana, K. |
| 著者所属（日） | 大阪大学 大学院理学研究科; 大阪大学 大学院理学研究科; 大阪大学 大学院理学研究科; 大阪大学 大学院理学研究科; 大阪大学 大学院理学研究科; 科学技術振興事業団; 愛媛大学 理学部 物質理学科 |
| 著者所属（英） | Osaka University Graduate School of Science; Osaka University Graduate School of Science; Osaka University Graduate School of Science; Osaka University Graduate School of Science; Osaka University Graduate School of Science; Japan Science and Technology Corporation; Ehime University Department of Physics, Faculty of Science |
| 発行日 | 2000-08-08 |
| 刊行物名 | Proceedings of the Second International Workshop on EGS
Proceedings of the Second International Workshop on EGS |
| 刊行年月日 | 2000-08-08 |
| 言語 | eng |
| 抄録 | Two-dimensional projections of various electron tracks in silicon are presented. A Charge-Coupled-Device (CCD) was exposed to beta-rays (976 keV and 1048 keV) from Bi-207 radio isotope. The incident angle of the beta-rays was set to be a grazing incidence of about 13 deg. The beta-rays deposit charge in the pixels according to their tracks. Thus the obtained images show two-dimensional projections of the beta-ray tracks. This experiment is useful for diagnosis of CCDs. Also shown is a thickness measurement of the depletion layer of a CCD. |
| キーワード | direct measurement; electron track; CCD; Bi-207; beta ray; two dimensional projection; research and development; 直接測定; 電子飛跡; CCD; Bi-207; ベータ線; 2次元投影; 研究開発 |
| 資料種別 | Conference Paper |
| SHI-NO | AA0029759034 |
| レポートNO | KEK-Proceedings-2000-20 |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/37480 |
