| タイトル | 阪大産研低速陽電子ビームの短パルス化と陽電子寿命測定 |
| その他のタイトル | Pulsing of the slow positron beam and positron lifetime measurements at ISIR, Osaka Univ. |
| 著者（日） | 田代 睦; 誉田 義英; 山口 倫宏; 寺島 孝武; 神野 和哉; 渡辺 元嗣; 木村 徳雄; 磯山 悟朗; 田川 精一 |
| 著者（英） | Tashiro, Mutsumi; Honda, Yoshihide; Yamaguchi, Tomohiro; Terashima, Takatake; Kanno, Kazuya; Watanabe, Mototsugu; Kimura, Norio; Isoyama, Goro; Tagawa, Seiichi |
| 著者所属（日） | 大阪大学産業科学研究所; 大阪大学産業科学研究所; 大阪大学産業科学研究所; 大阪大学産業科学研究所; 大阪大学産業科学研究所; 大阪大学産業科学研究所; 大阪大学産業科学研究所; 大阪大学産業科学研究所; 大阪大学産業科学研究所 |
| 著者所属（英） | Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University; Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University; Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University; Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University; Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University; Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University; Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University; Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University; Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University |
| 発行日 | 2001-08-01 |
| 刊行物名 | 第26回リニアック技術研究会
Proceedings of the 26th Linear Accelerator Meeting in Japan |
| 開始ページ | 309 |
| 終了ページ | 310 |
| 刊行年月日 | 2001-08-01 |
| 言語 | jpn |
| 抄録 | 阪大産研Sバンド電子ライナックから発生した低速陽電子ビームの短パルス化を進めている。これを用いて高分子薄膜材料などの陽電子寿命の深さ方向依存性を測定することを目的としている。装置は、陽電子蓄積部、チョッパーおよびバンチング部から構成される。これまで、時間分解能として550ps程度を得ている。しかし、準連続化したビームのエネルギー拡がりが予想よりも大きく、パルス幅の広がりと高いバックグランドの原因となっている。これを改善し、寿命測定を行う。その現状を述べる。 |
| キーワード | Osaka University; slow positron beam; short pulse; time resolution; life time; S band electron linac; chopper; research and development; 大阪大学; 低速陽電子ビーム; 短パルス; 時間分解能; 寿命; Sバンド電子リニアック; チョッパー; 研究開発 |
| 資料種別 | Conference Paper |
| SHI-NO | AA0033475103 |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/37490 |
