| タイトル | Development of large X-ray mirrors for high brilliance synchrotron radiation |
| その他のタイトル | 高輝度シンクロトロン放射用大型X線ミラーの開発 |
| 著者（日） | 山岡 人志; 宇留賀 朋哉; 桜井 吉晴; 松岡 勝 |
| 著者（英） | Yamaoka, Hitoshi; Uruga, Tomoya; Sakurai, Yoshiharu; Matsuoka, Masaru |
| 著者所属（日） | 理化学研究所 大型放射光施設計画推進部; 理化学研究所 大型放射光施設計画推進部; 理化学研究所 大型放射光施設計画推進部; 理化学研究所 大型放射光施設計画推進部 |
| 著者所属（英） | Institute of Physical and Chemical Research Spring-8 Project Team; Institute of Physical and Chemical Research Spring-8 Project Team; Institute of Physical and Chemical Research Spring-8 Project Team; Institute of Physical and Chemical Research Spring-8 Project Team |
| 発行日 | 1993-04 |
| 発行機関など | Institute of Physical and Chemical Research |
| 刊行物名 | Riken Review
Riken Review |
| 号 | 1 |
| 開始ページ | 3 |
| 終了ページ | 4 |
| 刊行年月日 | 1993-04 |
| 言語 | eng |
| 抄録 | Three large X-ray mirrors are developed for the high brilliance synchrotron radiation beamlines. These mirrors are required to have a length of about 1 m and a root mean square surface roughness of several Angstrom over a whole reflecting area. The mirror surface is characterized with the reflectivity and the power spectral density of its height distribution derived from the angle resolved scattering curve by measurements using CuK(sub alpha) X-ray under no heat load condition.
高輝度シンクロトロン放射ビームライン用の大型X線ミラー3枚を開発した。これらのミラーには、長さ約1mで、反射面全域にわたって数オシグストロームの実効粗さを持つことが要求される。その鏡面は、反射率と、熱負荷のない条件下でCuKαX線を用いた測定により角度分解された散乱曲線から導かれる反射率の高さ分布のパワースペクトル密度が特徴である。 |
| キーワード | high brilliance synchrotron radiation; X ray mirror; surface roughness; mirror surface; reflectivity; power spectral density; silicon; silicon carbide; angle resolved scattering curve; beam optics; beam line; 高輝度シンクロトロン放射; X線ミラー; 表面粗さ; 鏡面; 反射率; パワースペクトル密度; けい素; 炭化けい素; 角度分解散乱曲線; ビーム光学; ビームライン |
| 資料種別 | Technical Report |
| ISSN | 0919-3405 |
| SHI-NO | AA0006246001 |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/38187 |
