Continual structural evolution of the Si(111)6x6-Au surface studied by scanning tunneling microscopy

Abstract

Continual structural evolution of the Si(111)6 x 6-Au surface has been studied with scanning tunneling microscopy. Three types of the 6 x 6 phase have been observed by changing the coverage of Au (theta) and the condition of annealing. The 6 x 6 phase is defective at theta approximately 1.1 Monolayer (ML) but more ordered with increasing theta. At theta approximately 1.4 ML, a well-ordered 6 x 6 structure is obtained. This result indicates that the 6 x 6 phase has the most fundamental structure at theta approximately 1.4 ML.

走査トンネル顕微鏡によって、Si(111)6×6Au表面の連続構造成長を調べた。Au(θ)の蒸着範囲と焼き鈍しの条件を変えることによって3種類の6×6相を観測した。6×6相はθ?1.1単分子層で欠陥を持ち、θを増加させることによって一層整列していった。θ?1.4単分子層では、十分整列した6×6構造が得られた。この結果は、6×6相がθ?1.4単分子層で最も基本的な構造であることを示した。