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タイトルTechnical Report of ISSP Ser. A: Number 2933
その他のタイトルHigh magnetic field study of ballistic transport in a Resonant-tunneling Hot-Electron Transistor (RHET)
共鳴トンネル熱電子トランジスタ(RHET)におけるバリスティック電子輸送の強磁場による研究
著者(日)Strutz,Thomas; 高増 正; 三浦 登; 今村 健一; Eaves,Laurence
著者(英)Strutz, Thomas; Takamasu, Tadashi; Miura, Noboru; Imamura, Kenichi; Eaves, Laurence
著者所属(日)東京大学物性研究所; 東京大学物性研究所; 東京大学物性研究所; 富士通; Department of Physics, University of Nottingham
著者所属(英)Institute for Solid State Physics, University of Tokyo; Institute for Solid State Physics, University of Tokyo; Institute for Solid State Physics, University of Tokyo; Fujitsu Limited; Department of Physics, University of Nottingham
発行日1995-02
発行機関などInstitute for Solid State Physics, University of Tokyo
刊行物名Technical Report of ISSP Ser. A
Technical Report of ISSP Ser. A
2933
開始ページ1冊
刊行年月日1995-02
言語eng
抄録Base and collector currents have been studied in an InAlAs/InGaAs resonant-tunneling hot electron transistor at 4.2 K in pulsed magnetic fields up to 42.5 T. Base and collector currents have been found to depend strongly on the field and its orientation. For fields perpendicular to the current direction, the base/emitter current ratio increases initially with an approximate parabolic dependence and then saturates at high fields. From this magnetic field dependence, scattering processes in the InGaAs base region are discussed. Using a classical model for electron transport under a magnetic field perpendicular to the current, values for the mean free path and scattering time in the base are obtained that agree well with theoretical values for electron-electron scattering. It is shown that the magnetic field dependence of the collector current at high perpendicular fields can be explained by single barrier tunneling. A model in Wentzel-Kramer-Brillouin (WKB) approximation allows to determine the electron energy. Moreover, by extrapolating the high field dependence of the collector current to zero field, a ratio for ballistic transport through the base is derived.
42.5Tまでのパルス磁場におけるInAlAs/InGaAs RHETのベースおよびコレクタ電流を4.2Kで調べた。ベースおよびコレクタ電流は磁場とその方位に強く依存することを見出した。電流方向に垂直な磁場に対して、ベース/エミッタ電流比は近似的に放物線的依存性を示しながら最初は増加し、それから強磁場では飽和した。この磁場依存性から、InGaAsのベース領域における散乱過程を論じた。電流に垂直な磁場の下における電子輸送に対する古典的モデルを用いて、平均自由行程に対する値とベースにおける散乱時間が電子-電子散乱の理論値と良く一致することが得られた。強垂直磁場におけるコレクタ電流の磁場依存性が単一の障壁トンネルで説明されることが示された。WKB(Wentzel-Kramer-Brillouin)近似模型により電子エネルギーを決めることができた。さらに、コレクタ電流の強磁場依存性をゼロ磁場まで外挿することにより、ベースを通じてのバリスティックな輸送に対する比を引き出した。
キーワードresonant tunneling hot electron transistor; ballistic transport; high magnetic field; pulsed magnetic field; base current; collector current; magnetic field dependence; base/emitter current ratio; electron transport model; mean free path; scattering time; electron scattering; WKB approximation model; electron energy; RHET; 共鳴トンネル熱電子トランジスタ; バリスティック電子輸送; 強磁場; パルス磁場; ベース電流; コレクタ電流; 磁場依存性; ベース/エミッタ電流比; 電子輸送模型; 平均自由行程; 散乱時間; 電子散乱; WKB近似模型; 電子エネルギー; RHET
資料種別Technical Report
ISSN0082-4798
SHI-NOAA0007414000
レポートNOISSP-Ser.A-No.2933
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/42764


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