| タイトル | A quick accurate method to measure the dielectric constant of microwave integrated-circuit substrates. |
| 著者（英） | Howell, J. Q. |
| 発行日 | 1973-03-01 |
| 言語 | eng |
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| NASA分類 | ELECTRONIC EQUIPMENT |
| レポートNO | 73A24866 |
| 権利 | Copyright |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/457998 |
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