| タイトル | Microstructure analysis of Ge nanodots by grazing-incidence SAXS and diffuse scattering around a Bragg peak |
| その他のタイトル | グレージング入射SAXSおよびブラッグピーク近傍の散漫散乱によるGeナノドットのミクロ構造解析 |
| 著者（日） | 奥田 浩司; 小川 高志; 丹羽 創; 落合 庄治郎 |
| 著者（英） | Okuda, Hiroshi; Ogawa, Takashi; Niwa, Hajime; Ochiai, Shojiro |
| 著者所属（日） | 京都大学 国際融合創造センター; 京都大学 大学院工学研究科; 京都大学 大学院工学研究科; 京都大学 国際融合創造センター |
| 著者所属（英） | Kyoto University International Innovation Center; Kyoto University Graduate School of Engineering; Kyoto University Graduate School of Engineering; Kyoto University International Innovation Center |
| 発行日 | 2004-08 |
| 刊行物名 | PF・KENS合同研究会:ナノサイエンス・テクノロジーと放射光／中性子反射率法
PF-KENS Joint Meeting: Synchrotron Radiation and Neutron Reflectometry for Nano Sciences and Technologies |
| 開始ページ | 28 |
| 終了ページ | 30 |
| 刊行年月日 | 2004-08 |
| 言語 | eng |
| キーワード | microstructure; Ge; surface diffusion; quantum dot; diffuse scattering; heterostructure; Bragg peak; least squares method; ミクロ構造; Ge; 表面拡散; 量子ドット; 散漫散乱; ヘテロ構造; Braggピーク; 最小2乗法 |
| 資料種別 | Conference Paper |
| SHI-NO | AA0047519007 |
| レポートNO | KEK-Proceedings-2004-5 |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/47963 |
