| タイトル | The atom-probe field ion microscope. |
| 著者（英） | Mueller, E. W.; Mclane, S. B.; Panitz, J. A. |
| 発行日 | 1968-01-01 |
| 言語 | eng |
| 内容記述 | Atom probe field ion microscope combining probe hole FIM and mass spectrometer with single particle sensitivity |
| NASA分類 | INSTRUMENTATION AND PHOTOGRAPHY |
| レポートNO | 68A24665 |
| 権利 | Copyright |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/483438 |
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