タイトル | SiO2/Si interface states at 77 deg K |
著者(英) | Kuper, A. B.; Greenstein, E.; Caban-Zeda, H. P. |
著者所属(英) | Case Inst. of Tech. |
発行日 | 1967-01-01 |
言語 | eng |
内容記述 | Silicon oxide-silicon interface states at 77 degrees K |
NASA分類 | PHYSICS, SOLID-STATE |
レポートNO | 67N39861 NASA-CR-89741 |
権利 | No Copyright |
URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/489674 |
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