| タイトル | Micrometeoroid penetration measuring device Patent |
| 本文（外部サイト） | http://hdl.handle.net/2060/19710013764 |
| 著者（英） | Siviter, J. H., Jr.; Kinard, W. H.; Laney, C. C., Jr. |
| 著者所属（英） | NASA Langley Research Center |
| 発行日 | 1968-10-22 |
| 言語 | eng |
| 内容記述 | Measuring micrometeroid depth of penetration into various materials |
| NASA分類 | INSTRUMENTATION AND PHOTOGRAPHY |
| レポートNO | 71N23240 |
| 権利 | No Copyright |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/516910 |
