| タイトル | Undoped-type InSb radiation detector with rapid rise time |
| その他のタイトル | 速いライズタイムをもつアンドープ型InSb放射線検出器 |
| 著者（日） | 菱木 繁臣; 神野 郁夫; 杉浦 修; 村瀬 徳博; 中村 龍也; 片桐 政樹 |
| 著者（英） | Hishiki, Shigeomi; Kanno, Ikuo; Sugiura, Osamu; Murase, Yasuhiro; Nakamura, Tatsuya; Katagiri, Masaki |
| 著者所属（日） | 京都大学 大学院工学研究科; 京都大学 大学院工学研究科; 東京工業大学 大学院理工学研究科; 東京工業大学 大学院理工学研究科; 日本原子力研究所; 日本原子力研究所 |
| 著者所属（英） | Kyoto University Graduate School of Engineering; Kyoto University Graduate School of Engineering; Tokyo Institute of Technology Graduate School of Science and Engineering; Tokyo Institute of Technology Graduate School of Science and Engineering; Japan Atomic Energy Research Institute; Japan Atomic Energy Research Institute |
| 発行日 | 2003-10 |
| 刊行物名 | Radiation Detectors and Their Uses: Proceedings of the 17th Workshop on Radiation Detectors and Their Uses
Radiation Detectors and Their Uses: Proceedings of the 17th Workshop on Radiation Detectors and Their Uses |
| 開始ページ | 113 |
| 終了ページ | 117 |
| 刊行年月日 | 2003-10 |
| 言語 | eng |
| キーワード | undoped-type InSb; rapid rise time; high energy resolution; current-voltage curve; radiation detector; X-ray detector; temperature dependence; semiconductor; アンドープ型InSb; 速いライズタイム; 高エネルギー分解能; 電流・電圧曲線; 放射線検出器; X線検出器; 温度依存性; 半導体 |
| 資料種別 | Conference Paper |
| SHI-NO | AA0046490014 |
| レポートNO | KEK-Proceedings-2003-8 |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/53397 |
