| タイトル | フォトン走査型トンネル顕微鏡によるエバネセント光干渉縞の観察 |
| その他のタイトル | Observation of the evanescent interference fringes by a Photon Scanning Tunneling Microscope (PSTM) |
| 著者（日） | 石黒 智生; 山口 一郎; 岡本 隆之 |
| 著者（英） | Ishiguro, Tomoo; Yamaguchi, Ichiro; Okamoto, Takayuki |
| 著者所属（日） | 理化学研究所 光工学研究室; 理化学研究所 光工学研究室; 理化学研究所 光工学研究室 |
| 著者所属（英） | Institute of Physical and Chemical Research Optical Engineering Laboratory; Institute of Physical and Chemical Research Optical Engineering Laboratory; Institute of Physical and Chemical Research Optical Engineering Laboratory |
| 発行日 | 1996-09-30 |
| 刊行物名 | レーザー科学研究
Laser Science Progress Report of RIKEN |
| 号 | 18 |
| 開始ページ | 107 |
| 終了ページ | 109 |
| 刊行年月日 | 1996-09-30 |
| 言語 | jpn |
| 抄録 | フォトン走査型トンネル顕微鏡(PSTM)によりエバネセント光干渉縞(EIF)を観察し、プローブや入射光の偏光状態の像への影響を調べた。生成したEIFは、s偏光入射時に、295nmの周期および106nmの変調の深さの等強度面を持つ。観察されたEIF像の縞の間隔は、入射光の偏光方向や設定したフィードバックの目標出力レベルに依存しないで一定値の間隔をとった。しかし、変調の深さと位相は偏光とプローブ形状によって異なる。これらの結果はプローブの特性を評価できることを示した。
The Evanescent Interference Fringe (EIF) has been observed by Photon Scanning Tunneling Microscope (PSTM) and the influences of polarization and probes on the images have been studied. The produced EIF had the equi-intensity surfaces of intensity with a period of 295 nm, and a depth of 106 nm in s-polarization of the incident beam. The EIF-image observed showed a constant spacing independent of the polarization and the aimed output level for feedback. However, its modulation depth and phase are different depending on the polarization and probe shape. These results indicate a possibility for evaluation of probe characteristics. |
| キーワード | photon scanning tunneling microscope; PSTM; evanescent interference fringe; EIF; single mode optical fiber; feedback control; probe; microscopy; microscopy image; s polarization; p polarization; フォトン走査型トンネル顕微鏡; PSTM; エバネセント光干渉縞; EIF; 単一モードファイバ; フィードバック制御; プローブ; 顕微鏡観察; 顕微鏡画像; s偏光; p偏光 |
| 資料種別 | Technical Report |
| ISSN | 0289-8411 |
| SHI-NO | AA0000558037 |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/53637 |
