| タイトル | 光電子回折によるSi(001)吸着表面の構造解析 |
| その他のタイトル | Structural analysis of S[lc]i(001) adsorbed surface by means of photoelectron diffraction |
| 著者（日） | 下村 勝; 宗像 学; 虻川 匡司; 吉村 浩司; 佐藤 圭; 川和 拓央; Oh, J. H.; Yeom, H. W.; 河野 省三 |
| 著者（英） | Shimomura, Masaru; Sozo, Manabu; Abukawa, Tadashi; Yoshimura, Koji; Sato, Kei; Kawawa, Takuo; Oh, J. H.; Yeom, H. W.; Kono, Shozo |
| 著者所属（日） | 東北大学科学計測研究所; 東北大学科学計測研究所; 東北大学科学計測研究所; 東北大学科学計測研究所; 東北大学科学計測研究所; 東北大学科学計測研究所; 東京工業大学; Yonsei University; 東北大学科学計測研究所 |
| 著者所属（英） | Research Institute for Scientific Measurements, Tohoku University; Research Institute for Scientific Measurements, Tohoku University; Research Institute for Scientific Measurements, Tohoku University; Research Institute for Scientific Measurements, Tohoku University; Research Institute for Scientific Measurements, Tohoku University; Research Institute for Scientific Measurements, Tohoku University; Tokyo Institute of Technology; Yonsei University; Research Institute for Scientific Measurements, Tohoku University |
| 発行日 | 2001-06 |
| 刊行物名 | フォトンファクトリー研究会:高度化軟X線光源の表面科学への新展開:静的表面から動的表面・界面へ
Photon Factory Workshop on: New Prospects of Surface Chemistry with Advanced Soft X-ray Light Source: From Static Surfaces Towards Dynamical Surfaces and Interfaces |
| 開始ページ | 32 |
| 終了ページ | 33 |
| 刊行年月日 | 2001-06 |
| 言語 | jpn |
| キーワード | photoelectron diffraction; antimony; adsorption; adsorbed surface; surface structure; synchrotron radiation; Si(001) surface; monomolecular film; photoelectron spectroscopy; surface core level shift; simulation; electron scattering; 光電子回折; アンチモン; 吸着; 吸着表面; 表面構造; シンクロトロン放射; Si(001)表面; 単分子膜; 光電子分光; 表面内殻準位シフト; シミュレーション; 電子散乱 |
| 資料種別 | Conference Paper |
| SHI-NO | AA0033470013 |
| レポートNO | KEK-Proceedings-2001-13 |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/53929 |
