| タイトル | Design and Implementation of an X-Ray Reflectometer System for Testing X-ray Optic Coatings |
| 本文（外部サイト） | http://hdl.handle.net/2060/20150018441 |
| 著者（英） | Ramsey, Brian; Broadway, David; Gurgew, Danielle; Gubarev, Mikhail; Gregory, Don |
| 著者所属（英） | NASA Marshall Space Flight Center |
| 発行日 | 2015-08-09 |
| 言語 | eng |
| 内容記述 | No abstract available |
| NASA分類 | Astrophysics; Optics |
| レポートNO | MSFC-E-DAA-TN25842 |
| 権利 | Copyright, Distribution as joint owner in the copyright |
|
