タイトル | Frisch grid Si detector for low exposure X-ray radiography |
その他のタイトル | 低被爆X線撮像のためのFrischグリッド付シリコン検出器 |
著者(日) | 中山 敦司; 神野 郁夫; 野宮 聖一郎; 尾鍋 秀明 |
著者(英) | Nakayama, Atsushi; Kanno, Ikuo; Nomiya, Seiichiro; Onabe, Hideaki |
著者所属(日) | 京都大学 大学院工学研究科; 京都大学 大学院工学研究科; レイテック; レイテック |
著者所属(英) | Kyoto University Graduate School of Engineering; Kyoto University Graduate School of Engineering; Raytech Corporation; Raytech Corporation |
発行日 | 2004-11 |
刊行物名 | Radiation Detectors and Their Uses: Proceedings of the 18th Workshop on Radiation Detectors and Their Uses Radiation Detectors and Their Uses: Proceedings of the 18th Workshop on Radiation Detectors and Their Uses |
開始ページ | 56 |
終了ページ | 59 |
刊行年月日 | 2004-11 |
言語 | eng |
キーワード | X-ray radiography; Frisch grid Si detector; X-ray absorption; electric field; mean free path; charge collection; absorption efficiency; energy spectrum; X線撮像; Frischグリッド付シリコン検出器; X線吸収; 電場; 平均自由行路; 電荷収集; 吸収効率; エネルギースペクトル |
資料種別 | Conference Paper |
SHI-NO | AA0047966008 |
レポートNO | KEK-Proceedings-2004-14 |
URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/55608 |