Temperature Dependence of Al-LVV Auger Electron Spectra, 1

Abstract

Al-L(sub 23)VV Auger electron spectra induced by fast Ar(12+) ions(1 MeV/amu) were measured at the target temperature of 40 and 300 C. The observed temperature dependence strongly supported the Multiple-Hole(MH) transportation model. The model states that the decrease of the peak energy was caused by the increase of binding energy of a Valence Electron (VE), which was induced by the Coulomb potential due to MH. The MHs were created by the emission of valence electrons from the surface due to an impact of a projectile. Diffusion of MH was delayed at high temperature compared to low temperature. That is, the lowering of Auger electron energy continued for a longer time at high temperature compared to low temperature.

高速のAr(12+)イオン(1MeV/amu)が引き起こすAl-L(sub 23)VVオージェ電子のスペクトルを標的温度40度Cと300度Cで測定した。測定した温度依存性は多重ホール(MH)輸送模型を強く支持している。この模型によれば、ピークエネルギーの減少は、価電子(VE)の結合エネルギーの増加によって引き起こされ、価電子の結合エネルギーの増加は多重ホールのクーロンポテンシャルによって引き起こされる。多重ホールは入射体の衝突によって価電子が表面から放出されることで生成される。また、多重ホールの拡散は高温では低温と比較して遅れる。こうして高温では、Auger電子のエネルギー低下が低温の場合に比べて長いあいだ続くことになるのである。