JAXA Repository / AIREX 未来へ続く、宙(そら)への英知

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タイトル化学機械研磨プロセス開発における「その場」観察の適用事例
その他のタイトルApplication of In-situ Observation Technologies in CMP Process for Upgrading the Process Integrity
本文(外部サイト)https://www.ebara.co.jp/jihou/no/list/detail/__icsFiles/afieldfile/2020/11/12/251_06.pdf
参考URLhttps://www.ebara.co.jp/jihou/no/list/detail/251-6.html
著者(日)嶋, 昇平; 濵田, 聡美; 高東, 智佳子; 和田, 雄高; 福永, 明
著者(英)Shima, Shohei; Hamada, Satomi; Takatoh, Chikako; Wada, Yutaka; Fukunaga, Akira
著者所属(日)株式会社荏原製作所; 株式会社荏原製作所; 株式会社荏原製作所; 株式会社荏原製作所; 株式会社荏原製作所
著者所属(英)EBARA CORPORATION; EBARA CORPORATION; EBARA CORPORATION; EBARA CORPORATION; EBARA CORPORATION
発行日2016-04-20
発行機関など荏原製作所
EBARA CORPORATION
刊行物名エバラ時報
Ebara engineering review
251
開始ページ26
終了ページ31
刊行年月日2016-04-20
言語jpn
eng
抄録化学機械研磨現象の基礎的な理解のためには,液中での「その場(In-situ)」観察,評価手段が有用である。大気中と比較して,液中での測定はより難しくなる場合が多い。化学機械研磨はウェットプロセスであり,液中での評価が必須である。本稿では,光とプローブを用いた異なる三種の液中評価手法を試み,研磨プロセス中の表面反応,研磨粒子の挙動などを解析した。その結果,有用な評価手法として用いることができることが確認できたので,得られた結果を紹介し,これら液中in-situ評価手法を広めていきたいと考える。
In developing a basic understanding of what is happening during the chemical mechanical polishing process, evaluation techniques based on in-situ (in-liquid) observation are useful. Compared with in-air measurement, in-liquid measurement is often very difficult. Chemical mechanical polishing is a wet process, which absolutely requires evaluation based on in-liquid measurement. In this study, we tried three different evaluation techniques based on in-liquid measurement that uses light and a probe in order to analyze the surface reactions and behavior of abrasive particles during the polishing process. As a result, we determined that these techniques can be used as useful evaluation methods. In this paper, we describe the observation results with the hope that we can popularize these in-situ (in-liquid) evaluation techniques.
内容記述形態: カラー図版あり
Physical characteristics: Original contains color illustrations
キーワードChemical mechanical polishing; In-situ; Ellipsometry; Fluorescent microscopy; Kelvin probe; Surface reaction; Abrasive particle; Fluorescent particle; Benzotriazole; Wet process
資料種別Technical Report
NASA分類Instrumentation and Photography
ISSN0385-3004
NCIDAN1022883X
SHI-NOAA1640060000
URIhttps://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/574690


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