タイトル | 化学機械研磨プロセス開発における「その場」観察の適用事例 |
その他のタイトル | Application of In-situ Observation Technologies in CMP Process for Upgrading the Process Integrity |
本文(外部サイト) | https://www.ebara.co.jp/jihou/no/list/detail/__icsFiles/afieldfile/2020/11/12/251_06.pdf |
参考URL | https://www.ebara.co.jp/jihou/no/list/detail/251-6.html |
著者(日) | 嶋, 昇平; 濵田, 聡美; 高東, 智佳子; 和田, 雄高; 福永, 明 |
著者(英) | Shima, Shohei; Hamada, Satomi; Takatoh, Chikako; Wada, Yutaka; Fukunaga, Akira |
著者所属(日) | 株式会社荏原製作所; 株式会社荏原製作所; 株式会社荏原製作所; 株式会社荏原製作所; 株式会社荏原製作所 |
著者所属(英) | EBARA CORPORATION; EBARA CORPORATION; EBARA CORPORATION; EBARA CORPORATION; EBARA CORPORATION |
発行日 | 2016-04-20 |
発行機関など | 荏原製作所 EBARA CORPORATION |
刊行物名 | エバラ時報 Ebara engineering review |
号 | 251 |
開始ページ | 26 |
終了ページ | 31 |
刊行年月日 | 2016-04-20 |
言語 | jpn eng |
抄録 | 化学機械研磨現象の基礎的な理解のためには,液中での「その場(In-situ)」観察,評価手段が有用である。大気中と比較して,液中での測定はより難しくなる場合が多い。化学機械研磨はウェットプロセスであり,液中での評価が必須である。本稿では,光とプローブを用いた異なる三種の液中評価手法を試み,研磨プロセス中の表面反応,研磨粒子の挙動などを解析した。その結果,有用な評価手法として用いることができることが確認できたので,得られた結果を紹介し,これら液中in-situ評価手法を広めていきたいと考える。 In developing a basic understanding of what is happening during the chemical mechanical polishing process, evaluation techniques based on in-situ (in-liquid) observation are useful. Compared with in-air measurement, in-liquid measurement is often very difficult. Chemical mechanical polishing is a wet process, which absolutely requires evaluation based on in-liquid measurement. In this study, we tried three different evaluation techniques based on in-liquid measurement that uses light and a probe in order to analyze the surface reactions and behavior of abrasive particles during the polishing process. As a result, we determined that these techniques can be used as useful evaluation methods. In this paper, we describe the observation results with the hope that we can popularize these in-situ (in-liquid) evaluation techniques. |
内容記述 | 形態: カラー図版あり Physical characteristics: Original contains color illustrations |
キーワード | Chemical mechanical polishing; In-situ; Ellipsometry; Fluorescent microscopy; Kelvin probe; Surface reaction; Abrasive particle; Fluorescent particle; Benzotriazole; Wet process |
資料種別 | Technical Report |
NASA分類 | Instrumentation and Photography |
ISSN | 0385-3004 |
NCID | AN1022883X |
SHI-NO | AA1640060000 |
URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/574690 |