| タイトル | JT-60U ECH装置用ジャイロトロンにおけるアノード電圧制御による出力変調運転 |
| その他のタイトル | Power modulation by changing anode voltage of the 110GHz-gyrotron on JT-60U ECH system |
| DOI | 10.11484/jaeri-tech-2003-053 |
| 本文（外部サイト） | http://jolissrch-inter.tokai-sc.jaea.go.jp/pdfdata/JAERI-Tech-2003-053.pdf |
| 参考URL | http://jolissrch-inter.tokai-sc.jaea.go.jp/search/servlet/search?22659 |
| 著者（日） | 寺門 正之; 関 正美; 下野 貢; 五十嵐 浩一; 満仲 義加; 諫山 明彦; 安納 勝人; 池田 佳隆 |
| 発行日 | 2003-06 |
| 発行機関など | JAEA |
| 刊行物名 | JAERI-Tech 2003-053 |
| 開始ページ | 1 |
| 終了ページ | 25 |
| 刊行年月日 | 2003-06 |
| 言語 | ja |
| 内容記述 | 臨界プラズマ試験装置(JT-60U)では、電子サイクロトロン加熱(ECH)装置を用いて、局所的にプラズマを加熱あるいは電流駆動しプラズマの性能向上実験を実施している。また、プラズマの熱伝導率を測定し閉じ込め性能を調べるため、ECH装置の高周波源であるジャイロトロンの高周波出力を数十から数百Hz程度に変調し、プラズマ中へパルス的に入射している。JT-60Uでは、ジャイロトロンのアノード電圧を制御することで高周波出力の変調運転に成功した。アノード電圧を約10%変化させることで、変調度が約80%の出力変調運転を行うことができる。変調周波数は、12.2Hz~500Hzである。なお、出力変調運転中に主モードの発振効率が低下することにより放射器が加熱される。この原因は、放射器入口部における寄生発振と推測される。しかし、放射器の温度を監視することでジャイロトロンを保護することができる。
著者所属: 日本原子力研究開発機構(JAEA) |
| 資料種別 | Technical Report |
| URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/617332 |
