タイトル | Requirements in the edge for H-mode transitions |
その他のタイトル | Hモード遷移のためのプラズマ周辺部における条件 |
DOI | 10.11484/jaeri-m-88-033 |
本文(外部サイト) | http://jolissrch-inter.tokai-sc.jaea.go.jp/pdfdata/JAERI-M-88-033.pdf |
参考URL | http://jolissrch-inter.tokai-sc.jaea.go.jp/search/servlet/search?2074601 |
著者(日) | 松本 宏; 船橋 昭昌; 星野 克道; 川島 寿人; 河上 知秀; 前田 彦祐; 的場 徹; 松田 俊明; 三浦 幸俊; 森 雅博; 中沢 一郎; 小田島 和男; 小川 宏明; 小川 俊英; 大麻 和美; 仙石 盛夫; 荘司 昭朗; 鈴木 紀男; 玉井 広史; 上杉 喜彦 |
発行日 | 1988-02 |
発行機関など | JAEA |
刊行物名 | JAERI-M 88-033 |
開始ページ | 1 |
終了ページ | 15 |
刊行年月日 | 1988-02 |
言語 | en |
内容記述 | JFT-2M装置におけるHモード遷移のための周辺プラズマ条件が調べられた。遷移時の周辺電子温度、電子密度の測定により、一定の加熱条件の下では、電子温度と密度の両方が条件となっており、密度の高い所では、低い温度で遷移することが明らかになった。 著者所属: 日本原子力研究開発機構(JAEA) |
資料種別 | Technical Report |
URI | https://repository.exst.jaxa.jp/dspace/handle/a-is/618693 |